磨粉(fěn)激光粒度儀供應(ying)廠家

磨(mo)粉激光粒度儀供(gong)應廠家

磨粉(fen)按照研磨粉顆粒(li)的尺寸大小來區(qū)分的，一般被✌️分爲(wei)磨粒、磨粉、微粉和(hé)精粉四種。粉體樣(yang)品中不同粒徑顆(ke)粒占🏃🏻‍♂️顆粒總量的(de)百分數。有區間分(fen)布和累計分布兩(liǎng)種形式。區♍間分布(bù)又稱爲微分分布(bu)或㊙️頻率分布，它表(biao)示一系列粒徑區(qu)間中顆💯粒的百分(fèn)含量。累計分布也(ye)叫積分🙇🏻分布，它表(biǎo)示🈲小于或大于某(mou)粒徑顆粒的百分(fen)含量。磨粉激光粒(lì)度儀是一款用于(yu)檢測研磨粉顆粒(lì)粒徑及粒徑分布(bu)的精密儀器，該儀(yí)器具有測試🔱速度(dù)快、測試範圍寬㊙️、重(zhòng)複性和真實性好(hǎo)、操作簡便等優點(diǎn)。

磨粉激光粒(lì)度儀供應廠家

磨粉激光粒度(du)儀适用範圍：

     LAP-DW2000激光粒度儀廣泛(fan)應用于水泥、陶瓷(cí)、藥品、乳液、塗料、染(ran)料、顔料、填料、化工(gōng)産品、催化劑、鑽井(jǐng)泥漿、磨料、潤滑劑(ji)、泥砂、粉塵、細胞🤞、細(xi)菌、食品、添加劑、農(nong)藥、石墨、感光材料(liao)、燃料、墨汁、金屬與(yu)非金屬粉末、碳酸(suan)鈣、高嶺🌈土、水煤漿(jiāng)、鋁銀漿及其他粉(fěn)狀物料。

LAP-DW2000幹濕(shī)一體激光粒徑檢(jian)測儀主要性能特(te)點：

*的光路設(she)計：LAP-DW2000激光粒度(du)儀采用會聚光傅(fu)立葉變換測試技(ji)術，保證在較💞短的(de)焦距獲得大量程(cheng)，有效提高儀器的(de)分辨能力；*的高密(mì)度探測單元，讓LAP-DW2000擁有了*的小顆(kē)粒測試能力，高密(mì)度探測單元的使(shi)💁用讓LAP-DW2000具有*的(de)全量程無縫測試(shì)能力。

幹、濕一(yi)鍵切換：幹濕(shī)切換将由儀器自(zi)動完成，全部過程(cheng)10S内完成。

主探測器Z向(xiang)自動移動：幹(gàn)濕切換後因光學(xue)玻璃的介入會導(dǎo)緻會聚光焦距變(bian)化，LAP-DW2000激光粒度(du)儀會根據幹、濕法(fǎ)的不同自動調整(zheng)主探測器，使主探(tan)👌測器始終在焦平(ping)面上（實現光路三(san)維自動校對）。

防塵、防震設計：儀器整體進行(hang)了密封設計，大幅(fu)提高了内部元器(qi)🌐件使❄️用💰壽命。*的懸(xuan)浮式結構能有效(xiao)避免外界震動對(dui)儀📱器的影響❓，使測(cè)試結果更穩定可(ke)靠。

強防腐設(shè)計（選配）：根據(ju)客戶實際需求可(kě)以配備耐酸、耐堿(jiǎn)、耐油（含一切溶劑(jì)油）、耐有機溶劑。

進口氦-氖(nai)激光器：LAP-DW2000激光(guāng)粒度儀采用了高(gāo)穩定、長壽命的進(jin)口氦-氖激光(guang)器，優良的單色性(xìng)及穩定性讓LAP-DW2000擁有了*的測試重(zhong)複性（标配爲國産(chǎn)）。

光路自動校(xiào)對：自動對焦(jiao)系統，儀器可自動(dong)校對光路。

*微(wei)量循環系統：整個分散循環系(xì)統進行了優化設(she)計，分散介質大于(yu)150毫升即可循(xún)環測試，真正達到(dào)了微量循環測試(shì)；優🍓化🔞的設計保證(zheng)排水後無廢液殘(cán)留，保證了下一次(cì)測試結果的準确(què)性。

超寬量程(cheng)：LAP-DW2000激光粒度儀(yi)量程達到了0.1μm～2000μm。

免排氣(qì)泡設計：全新(xin)的設計使整個測(ce)試過程不會有氣(qi)泡進入測試樣品(pǐn)窗，避🔴免了氣泡影(ying)響。

樣品無殘(can)留設計：儀器(qì)管道及排水結構(gou)進行了優化設計(jì)，儀器管道、循環泵(bèng)内無積液殘留，避(bì)免對下一次測試(shi)數據的影響；幹法(fa)測試🔞同樣進行了(le)無殘留設計。

幹法計算機遠程(chéng)控制喂料：LAP-DW2000幹(gan)法測試時測試人(ren)員可通過電腦遠(yuǎn)端控制喂料😄速度(du)，大大減少了測試(shì)人員的勞動強度(dù)。

樣品窗快換(huan)裝置：全新設(shè)計的樣品窗快換(huàn)裝置，使樣品窗更(gèng)換更方便快捷。

幹濕一體激光(guāng)粒徑檢測儀*的濕(shī)法循環分散系統(tǒng)，保證顆粒保證測(ce)試過程中無顆粒(li)沉積現象，測試完(wan)畢後無廢液積存(cún)🌐設計，保證了下一(yī)次測試精度，使測(ce)試‼️結果更真實可(kě)靠；幹法分散采用(yong)力了直線噴射分(fen)散設計，樣品經過(guo)高壓氣體分散後(hòu)垂直向後方飛行(háng)，避👨‍❤️‍👨免了待測小顆(kē)粒的二次團簇，同(tóng)時采取了管道無(wú)🔱殘留設計，保證了(le)測試不同樣品的(de)準确性。*的光路自(zi)動校對系統、幹濕(shī)一鍵切換系統、幹(gan)法電腦遠端控制(zhi)喂料系統等精心(xin)設計彰顯出LAP-DW2000*優勢。